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  • 吉時利 4200A-SCS 半導體參數分析儀
    吉時利 4200A-SCS 半導體參數分析儀作為集成式半導體特性分析系統,它可同步實現直流 I-V、C-V、超快脈沖 I-V 的高精度測量,配備的 Clarius 軟件內置數百種應用測試模板,支持模塊化定制升級,可擴展SMU、CVU、PMU等全品類模塊,適配從 MOSFET、非易失性存儲器到納米器件、光伏器件的全場景測試需求。
    01

    更新日期

    2026-04-02
    02

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  • Keysight B1500A 半導體器件參數分析儀
    是德科技 Keysight B1500A 半導體器件參數分析儀,則是一體化器件表征領域的另一座高峰。這款多功能分析儀支持 IV、CV、脈沖 / 動態 IV 等全維度測量技術,主機可靈活搭配大功率源表、高分辨率源表、多頻率電容測量單元、超快脈沖測量單元等十余種插件模塊,最小測量分辨率可達 0.1fA,最小選通脈寬低至 10ns,能夠覆蓋從成熟制程到優良工藝、從分立器件到大規模集成電路的全品類表征需求
    01

    更新日期

    2026-04-07
    02

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    76
  • VT321半導體參數分析儀
    VT321半導體參數分析儀,支持SMU、LCR、PGU、PMU等PXIe標準模塊,滿足復雜測試需求。配備15.6英寸高清屏,預裝Windows 10及VTNext軟件,提供I-V、C-V、脈沖I-V測試功能,內置MOSFET、BJT、二極管、電阻及電容等豐富的器件類型庫,為現代半導體、材料和工藝表征提供高級測試定義、參數分析、圖表繪制和自動化功能。
    01

    更新日期

    2026-03-27
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    67
  • SA8000半導體參數分析儀
    SA8000半導體參數分析儀基于全自主知識產權的 PXIe 架構設計,最多支持 18 個模塊同時工作,可靈活組合直流 IV、CV、快速脈沖測量單元,通過高速總線與統一同步觸發管理,實現多模塊的精準協同測試,無需在多臺儀器間反復切換,大幅提升測試效率與數據一致性。
    01

    更新日期

    2026-03-27
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  • FS-Pro半導體參數測試系統
    FS-Pro半導體參數測試系統是一款功能全面、配置靈活的半導體器件電學特性分析設備。在一個系統中實現了電流電壓(IV)測試、電容電壓(CV)測試、脈沖式IV測試、任意線性波形發生與測量、高速波形發生與釆集以及低頻噪聲測試能力,幾乎所有半導體器件的低頻特性表征都可以在FS-Pro測試系統中完成。
    01

    更新日期

    2026-03-27
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